PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
TEM原位高溫力學測量系統 PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統,同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。
MEMS-STM-TEM PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統,該產品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統,使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境(包括力、熱、光、電等)